Influence of the Joint Pressure on Dielectric Strength at Interface between PE and Silicon

verfasst von

M. Farahani, Peter Werle, J. Hohloch, W. Hutt

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Typ

Paper

Publikationsdatum

2016

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja