The influence of Humidity on the Breakdown of SF6 with Dielectric-Coated Electrodes

verfasst von

Manfred Beyer , C. D. Ritschel

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Typ

Paper

Publikationsdatum

1985

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja